AOI-无视觉访问区域-阵列式封装(BGA 、CSR倒装芯片)和射频屏蔽下的零件
AXI和2DX-Ray会将电路板对面的元件视为缺陷 ,限制了缺陷的覆盖率
三维X射线可以对双面板进行全面检查3DX射线系 统解决了2DX射线的覆盖问题。
| 标准号 |
标准名称 |
| ASTM D6584-2013 |
用气相色谱法测定B-100生物柴油甲酯中总甘油一酯、... |
| ANSI/ASTM D6584-2008 |
DETERMINATION OF CHLORINATION DISINFECTION BYPRODUCTS, CHLORINATED
SOLVENTS, AND HALOGENATED PESTICIDES/HERBICIDES IN DRINKING WATER BY LIQUID-LIQUID EXTRACTION
AND GAS CHROMATOGRAPHY WITH ELECTRON...
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