— 45/0几何光学结构，符合CIE No.15,支持ISO 13655标准规定的MO,M1,M2,M3 测试条件， 准确实现各种印刷密度、叠印率等印刷参数测量； — 测量样品反射光谱，CMYK 密度、Lab、Yxy、s-RGB、色差等色度数据，可用于颜色准确传递； — 电子硬件配置高：3.5in TFT真彩屏，电容触摸屏，凹面光栅，256像元双阵列CMOS 探测器等； ——优美的外观造型与符合人体力学的结构设计相结合； — φ2/4/8mm 口径任选其一，兼顾多种样品测量； —大容量存储空间，可存储20000条以上测试数据； —采用高寿命低功耗的组合LED 光源，包含UV 光； —USB/ 蓝牙双通讯模式，数据传输更方便； — 特别适合印刷厂过程控制、品质管控； — PC 端软件有功能强大的功能扩展。