同步热分析仪(STA)结合了热重分析(TGA)和差示扫描量热法(DSC) 的功能，能够在同一测试过程中同步获取样品的热学性质与质量变化数据。 ① 内置进口质量称量天平，自带内部校准和温度补偿功能，质量变化能够快速响应，具有更好的准确性 和重复性； ② 仪器内置质量水平导向功能，在秤盘量程内，样品位置的变化不影响质量结果； ③ 内部天平室配有恒温水浴装置，保证天平室恒温，极大的提高了称量的稳定性； ④ 仪器可以做样品增重或失重类实验，如样品的吸附和分解过程； ⑤ 封闭式陶瓷保温炉体结构，大大提升了信号灵敏度和分辨率，能获得更稳定的基线； ⑥ 炉体模块化设计，机动性更加灵活，维护更加方便； ⑦ 炉体内部设计有双气路吹扫结构，能更好的保证实验过程的气密性； ⑧ 炉体内部设计有毛细管水循环制冷结构，该装置包裹炉体，用于炉体的降温； ⑨ 炉体可根据客户需求预留实验尾气处理接口，可以进行实验尾气的二次分析； ⑩ 传感器支架采用进口材料设计，配备的多种类型传感器可通过软件任意切换，不同的测试场合可以灵 活选择传感器类型，尤其适用于对高分子材料的相变、玻璃化类实验； ⑪ 传感器信号的采样频率0.05～10Hz可设置，实验方法更加灵活，数据更加可控； ⑫ 双温度传感器设计理念，可以同时分别测试炉体内部温度和样品温度； ⑬ 全控温系统采用优化的动态PID算法，极大的规避了传统PID算法的缺点，提高了双模式控温的鲁棒性； ⑭ 具有FTC和STC两种实验模式可设置，控温更加友好灵活，可以满足不同应用场景不同实验的需求， 对实验过程温度的控制更加精确，对传感器信号的解析更加高效，精准掌控实验效果； ⑮ 12阶的程序控温设置，让实验方法更加多样化，且设备具有循环扫描功能，循环扫描次数可设置高达 9999次，数据自动保存； ⑯ 设备系统的下位机和上位机同时具有多点温度校正功能，满足不同实验场合的需求，提高了温度测试 的准确性； ⑰ 仪器配有进口高频内核控制处理器，运算处理速度更快，控制更加高效； ⑱ 相互独立的气氛控制，可以通过软件智能设置，仪器自动切换气路系统，实验效率更高； ⑲ 设备系统可以做升温、降温和等温相关类材料实验； ⑳ 采用7寸24bit 色全彩LCD触摸屏，实时显示仪器的状态和数据； 型号 STA-1250S 温度范围 RT～1250℃ 传感器类型 K型、E型可任意切换 (K型标配， E型选配) 温度分辨率 0.01℃ 温度波动 ±0.01℃ 升温速率 0.1～100℃/min 天平测量范围 0.01mg-5g 质量解析度 0.01mg DSC量程范围 0~±2000mW DSC灵敏度 0.001mW 恒温时间 0～500min(任意设定) 冷却时间 30min(1000℃…100℃) 计时频率 16.6Hz 采样速率 0.05～10Hz可程序设置 实验模式 FTC、STC模式任意设置 实验类型 失重、增重(吸附) 程序控温 全阶段12阶控温灵活设置 控温方式 升温、恒温、降温 循环次数 循环次数可设置高达9999次，且数据自动保存 仪器校准 下位机和上位机同时具有多点温度校正功能 显示方式 24bit色7寸LCD触摸屏显示 气氛控制 两路气氛可自由设置，仪器自动切换 参数标准 配有标准物质，用户可自行矫正温度